双向反射分布测量仪等
项目概况
- 1）双向反射分布测量仪，所测参数 BRDF 是反映材料表面光学反 射系数具有唯一性的五维参数，能够完全表征材料本身，是当前国 际上实现目标智能识别（成像）的最先进的方法所必须的基础量值， 通过该参数的测量，可以判断航天器对太阳光的反应，避免“日盲”； 可以判断对地遥感对象，增强地物识别；可以分析军事目标与背景， 进行隐形或准确锁定目标物；可以建立物体的 3D 模型，研究机器 视觉等。由于有航天军事因素，国际先进技术核心对中国保密，相 关高端仪器禁运。项目组研制的该测量仪“理论方案具有创新性”、 与 “美国仪器水平相当”，“达到国际先进水平”。（原国家质 检总局鉴定意见）。该成果获 2012 年度北京市科学技术奖三等奖 2）光学密度测量仪及标准器。光学密度是评价感光材料光学性能 的主要物理量之一。在核设施监测、分子生物学等新兴领域需要高 密度、高通量的光学密度测量。项目组研制的该仪器，优于德国 PTB 和美国 NIST 的相关仪器，达到国际领先水平。在最近的欧亚 国际比对中，表现最优。该成果获 2011 年度北京市科学技术奖三 等奖 3）核磁共振成像仪质控标准器 针对数字诊疗设备输出终 端影像标准化进行研究，建立了可测量的影像质控方法。按不同临 床应用研制了均匀水模、多参数水模、动态水模、显微水模、标准 线圈等，并加入了不同序列、采集方法以及谱仪对成像质量的影响。 形成磁共振影像设备多层次质控标准器，打破国外磁共振产业相关 设备及技术的垄断和黑箱模式。
团队介绍
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